Jong-Tae Park

• Artículos de revistas (4)

• Artículos de revistas

  • Negative bias illumination stress instability in amorphous InGaZnO thin film transistors with ITO local conducting buried layer

    Sang Min Kim, Min-Soo Kang, Won-Ju Cho, Jong-Tae Park

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 327-332

    • Resumen
    

  • Reliability of amorphous InGaZnO TFTs with ITO local conducting buried layer for BEOL power transistors

    Hyun Jong Kim, Byung Sang Song, Won-Ju Cho, Jong-Tae Park

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 333-337

    • Resumen
    

  • A Hybrid Escalation Mechanism for the Efficient Restoration of ATM Networks

    Dong-Hee Lee, Jong-Tae Park

    Computers & industrial engineering, ISSN 0360-8352, Vol. 35, Nº 1, 1998, págs. 279-282

    

  • Customer network management system for mnaging ATM virtual private networks

    Jong-Tae Park, Jae Hong Lee, James Won Ki Hong

    IEICE transactions on communications, ISSN 0916-8516, Vol. 80, Nº. 6, 1997, págs. 818-826

    

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