Periodo de publicación recogido
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Recovery behaviors in n-channel LTPS-TFTs under DC stress
Wei Yan, Zhinong Yu, Jian Guo, Dawei Shi, Jianshe Xue, Wei Xue
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 117-120
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