Periodo de publicación recogido
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Compact conduction band model for transition-metal dichalcogenide alloys
Kuan-Ting Chen, Ren-Yu He, Chia-Feng Lee, Ming-Ting Wu, Shu-Tong Chang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 223-229
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