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Thermal stress probing the channel-length modulation effect of nano n-type FinFETs
Fu-Yuan Tuan, Chii-Wen Chen, Mu-Chun Wang, Wen-Shiang Liao, Shea-Jue Wang, Shou-Kong Fan, Wen-How Lan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 83, 2018, págs. 260-270
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