Periodo de publicación recogido
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Medidas del dominio de la frecuencia ¿con un analizador de espectros o un osciloscopio?
Alex Dickson, John S. Hansen
Revista española de electrónica, ISSN 0482-6396, Nº 704-705, 2013, págs. 50-52
Una solución moderna para la caracterización de matrices multiapertura y antenas de matrices en fase
Alex Dickson, John S. Hansen
Revista española de electrónica, ISSN 0482-6396, Nº 703, 2013, págs. 72-73
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