Periodo de publicación recogido
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Y. Peng, Y.J. Zhang, D.T. Liu, L.S. Liu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 514-518
Comparison of Thresholding Techniques Using Synthetic Images and Ultimate Measurement Accuracy
Y.J. Zhang, J.J. Gerbrands
11th IAPR : International Conference on Pattern Recognition: Proceedings : The Hague, The Netherlands, August 30 - September 3, 1992 / coord. por International Association for Pattern Recognition (IAPR), Vol. 3, 1992 (Conference C: Image, Speech, and Signal Analysis), ISBN 0818629207, págs. 209-213
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