Periodo de publicación recogido
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Conducted EMI evolution of power SiC MOSFET in a Buck converter after short-circuit aging tests
Shawki Douzi, Moncef Kadi, Habib Boulzazen, Mohamed Tlig, Jaleleddine Ben Hadj Slama
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 219-224
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