Periodo de publicación recogido
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Learning from a lot: Empirical Bayes for high‐dimensional model‐based prediction
Mark A. van de Wiel, Dennis E. te Beest, Magnus M. Münch
Scandinavian journal of statistics: Theory and applications, ISSN 0303-6898, Vol. 46, Nº. 1, 2019, págs. 2-25
A test for partial differential expression
Wessel N. van Wieringen, Mark A. van de Wiel, Aad van der Vaart
Journal of the American Statistical Association, ISSN 0162-1459, Vol. 103, Nº 483, 2008
Comments on: Control of the false discovery rate under dependence using the bootstrap and subsampling
José A. Ferreira, Mark A. van de Wiel
Test: An Official Journal of the Spanish Society of Statistics and Operations Research, ISSN-e 1863-8260, ISSN 1133-0686, Vol. 17, Nº. 3, 2008, págs. 443-445
A Note on Sample Size Determination for a Nonparametric Test of Location
Mark A. van de Wiel, B. Hong, S. Chakraborti
Technometrics: A journal of statistics for the physical, chemical and engineering sciences, ISSN 0040-1706, Nº. 1, 2006, págs. 88-94
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