Yehisen Frederick Urbina Fernández

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  • Medida de eficiencia técnica en la educación media de América Latina: Pruebas PISA

    Rafael Viana Barceló, Yehisen Frederick Urbina Fernández

    Panorama Económico, ISSN 0122-8900, ISSN-e 2463-0470, Vol. 27, Nº. 1, 2019, págs. 39-59

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