Claudia Kniess
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
Patent technometry by mind maps: a study on the recycling of waste electrical and electronic equipment
Celso Arruda Vanderlei, Claudia Kniess, Luc Quoniam
International Journal of Innovation: IJI Journal, ISSN-e 2318-9975, Vol. 8, Nº. 1 (January-April), 2020, págs. 77-100
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