Periodo de publicación recogido
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Patrón de resistencia basado en el efecto Hall cuántico
A. Camón, J. M. Lamana, A. Martínez, R. Navarro, C. Rillo
Metromática/91: V Congreso Internacional de Metrología Industrial, 13-15 noviembre 1991 Zaragoza (España) / coord. por Fernando Torres Leza, 1991, págs. 245-254
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