Periodo de publicación recogido
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Specific properties of fine SnO~2 powders connected with surface segregation
S. Oswald
Analytical and bioanalytical chemistry, ISSN 1618-2642, Vol. 378, Nº 2, 2004, págs. 411-415
XPS investigations of thin tantalum films on a silicon surface
S. Oswald, M. Zier, R. Reiche, K. Wetzig
Analytical and bioanalytical chemistry, ISSN 1618-2642, Vol. 375, Nº 7, 2003, págs. 902-905
S. Oswald, D. Dobler, K. Wetzig
Analytical and bioanalytical chemistry, ISSN 1618-2642, Vol. 374, Nº 4, 2002, págs. 646-649
S. Oswald, S. Baunack, G. Henninger
Analytical and bioanalytical chemistry, ISSN 1618-2642, Vol. 374, Nº 4, 2002, págs. 736-741
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