Joel L. Plawsky

• Artículos de revistas (5)

• Artículos de revistas

  • Charge transport model to predict dielectric breakdown as a function of voltage, temperature, and thickness

    Sean P. Ogden, Yueming Xu, Kong Boon Yeap, Tian Shen, Toh-Ming Lu, Joel L. Plawsky

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-2, 2018, págs. 232-242

    • Resumen
    

  • Wickless heat pipes in microgravity

    Joel L. Plawsky

    Physics today, ISSN 0031-9228, Vol. 70, Nº. 9, 2017, págs. 82-83

    • Resumen
    

  • Experimental Determination of the Effect of Disjoining Pressure on Shear in the Contact Line Region of a Moving Evaporating Thin Film

    Peter C. Wayner Jr., Joel L. Plawsky, Sashidhar S. Panchamgam, Sunando DasGupta, Shripad J. Gokhale

    Transactions of the ASME. Serie C: Journal of heat transfer, ISSN 0022-1481, Vol. 127, Nº 3, 2005, págs. 231-243

    

  • Stability and Oscillations in an Evaporating Corner Meniscus

    L. Zheng, Joel L. Plawsky, S. DasGupta, P. C. Wayner Jr.

    Transactions of the ASME. Serie C: Journal of heat transfer, ISSN 0022-1481, Vol. 126, Nº 2, 2004, págs. 169-178

    

  • Optical Evaluation of the Effect of Curvature and Apparent Contact Angle in Droplet Condensate Removal

    Joel L. Plawsky, Peter C. Wayner Jr.

    Transactions of the ASME. Serie C: Journal of heat transfer, ISSN 0022-1481, Vol. 124, Nº 4, 2002, págs. 729-738

    

Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.