M. C. Hamilton

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • Proton-induced displacement damage in ZnO thin film transistors: Impact of damage location

    Kosala Yapabandara, Vahid Mirkhani, Shiqiang Wang, Min P. Khanal, Sunil Uprety, Tamara Isaacs-Smith, M. C. Hamilton, Minseo Park

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-2, 2018, págs. 262-268

    • Resumen
    

  • Destruction of the World Trade Center and PCBs, PBDEs, PCDD/Fs, PBDD/Fs, and Chlorinated Biphenylenes in Water, Sediment, and Sewage Sludge

    Simon Litten, Dennis J. McChesney, Brian Fowler, M. C. Hamilton

    Environmental science & technology, ISSN 0013-936X, Nº. 24, 2003, págs. 5502-5510

    

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