Periodo de publicación recogido
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Reliability and lifetime estimations of GaN-on-GaN vertical pn diodes
B. Rackauskas, M.J. Uren, T. Kachi, M. Kuball
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 95, 2019, págs. 48-51
MgO/p-GaN enhancement mode metal-oxide semiconductor field-effect transistors
J.-I. Chyi, S. J. Pearton, C.-C. Pan, Y. Nakano, F. Ren, B. P. Gila, C. R. Abernathy, G.-T. Chen, J. Kim, M. Ishiko, Y. Irokawa, T. Kachi, A. H. Onstine
Applied physics letters, ISSN 0003-6951, Vol. 84, Nº. 15, 2004, págs. 2919-2921
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