Periodo de publicación recogido
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C. Metra, M. S. Reorda
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 5, 2004, pág. 463
A New Approach to the Analysis of Single Event Transients in VLSI Circuits
M. S. Reorda, M. Violante
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 5, 2004, págs. 511-521
A New Approach to Software-Implemented Fault Tolerance
M. Rebaudengo, M. S. Reorda
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 4, 2004, págs. 433-437
Code Generation for Functional Validation of Pipelined Microprocessors
G. Squillero, F. Corno, E. Sanchez, M. S. Reorda
Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 3, 2004, págs. 269-278
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