Periodo de publicación recogido
|
|
|
Bias voltage criteria of gate shielding effect for protecting IGBTs from shoot-through phenomena
M. Tsukuda, S. Abe, K. Hasegawa, T. Ninomiya, I. Omura
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 482-485
R.N. Tripathi, M. Tsukuda, I. Omura
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 505-509
S. Abe, K. Hasegawa, M. Tsukuda, Koichi Wada, I. Omura, T. Ninomiya
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 465-469
Clamp type built-in current sensor using PCB in high-voltage power modules
M. Tsukuda, K. Nakashima, S. Tabata, K. Hasegawa, I. Omura
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 517-521
T. Matsudai, S. Umekawa, M. Tsukuda
IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 151, Nº 3, 2004, págs. 255-258
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados