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Análisis cuantitativo y microestructural en cerámicos avanzados de sic mediante difractometría de rayos x
Autores:
Ángel Hernández Jiménez
Directores de la Tesis:
Ángel Luis Ortiz Seco
(
dir. tes.
),
Florentino Sánchez Bajo
(
codir. tes.
)
Lectura:
En la
Universidad de Extremadura
( España ) en 2005
Idioma:
español
Tribunal Calificador de la Tesis:
Fernando Guiberteau Cabanillas
(
presid.
),
María Pilar Rubio Montero
(
secret.
),
Jesús María Rincón López
(
voc.
),
José Pérez Pérez
(
voc.
),
Antonio Macias Gracia
(
voc.
)
Materias:
Física
Electromagnetismo
Rayos x
Química física
Física del estado liquido
Ciencias tecnológicas
Tecnología de materiales
Materiales cerámicos
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