LA FORMA DE LINEA OBTENIDA EN ESPECTROMETRIA ALFA UTILIZANDO DETECTORES DE SEMICONDUCTOR SE PUEDE AJUSTAR A UNA FUNCION RESULTADO DE LA CONVOLUCION DE UNA GAUSSIANA CON DOS EXPONENCIALES TRUNCADAS A LA IZQUIERDA. LA ASIMETRIA DE ESTA LINEA ESTA CAUSADA POR EFECTOS PRODUCIDOS EN EL PROCESO DE DETECCION Y QUE ESTAN ORIGINADOS TANTO EN LA PUENTE COMO EN EL DETECTOR. ESTOS EFECTOS PUEDEN ESTUDIARSE VARIANDO LA DISTANCIA ENTRE LA FUENTE Y EL DETECTOR, Y VARIANDO EL ANGULO DE INCLINACION ENTRE AMBOS. DE ESTA FORMA SE OBSERVAN MINUSCULAS VARIACIONES EN LA FORMA DE LINEA DEL PICO ALFA QUE HACEN POSIBLE EL ESTUDIO E INTERPRETACION, DESDE EL PUNTO DE VISTA MICROSCOPICO, DE LA INTERACCION DE LAS PARTICULAS ALFA CON LA MATERIA EN EL PROCESO DE DETECCION.
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