Resumen de Caracterización de dieléctricos por tdr: análisis de errores aleatorios
El trabajo está dedicado al análisis de los errores aleatorios que presenta un sistema de reflectometría en el dominio del tiempo (TDR), en su aplicaci]on a la caracterizaci]on electromagnética de dieléctricos.
Se han analizado las diferentes contribuciones a la incertidunbre en las señales temporales medidas, utilizando como excitaci]on un escal]on de tensi]on con un de tiempo de subida de 35 ps, conducente a la caracterizaci]on de dieléctricos en un rango de frecuencias comprendido entre DC y 10 GHz.
A tal efecto se ha desarrollado un método de simulaci]on de errores por Montecarlo que permite estimar la precisi]on de las magnitudes dieléctricas tanto en el dominio del tiempo (respuesta dieléctrica, tiempo de relajaci]on macrosc]opico) como en dominio de la frecuencia (permitividad dieléctrica compleja), utilizando medidas experimentales en primera reflexi]on.
A su vez, se describe un método analítico para el cálculo de incertidumbres en el coeficiente de reflexi]on, en el dominio de la frecuencia, a partir de la adquisici]on de datos temporales.
El estudio comprende los métodos estadísticos necesarios para la simulaci]on y posterior tratamiento de los resultados: generaci]on de números aleatorios, pruebas estadísticas z, x2, y F, establecimiento de intervalos de confianza, y pruebas de independencia de variables.
También se establecen las relaciones entre las incertidumbres en los resultados finales y los parámetros de medida en el dominio del tiempo.
El método de simulaci]on ha sido aplicado a la caracterizaci]on de diferentes dieléctricos (propanol-1, etanol, etilenoglicol, metanol, y clorobenceno) estableciendo un análisis comparativo con los resultados deducidos por otros autores. El trabajo comprende también el estudio de la inestabilidad del algoritmo de cálculo de la funci]on de respuesta dieléctrica basado en convoluci]on temporal obteniendo soluciones, basadas en filtrado digital,
