Óptica de rayos X para líneas de radiación de sincrotrón y aplicación de la espectroscopia de absorción de rayos X al estudio de materiales ordenados y desordenados de metales de transición
- Autores: Manuel Sánchez del Río
- Directores de la Tesis: Joaquin Garcia Ruiz (dir. tes.)
- Lectura: En la Universidad de Zaragoza ( España ) en 1991
- Idioma: español
- Tribunal Calificador de la Tesis: Domingo González Alvarez (presid.), Victor Orera Clemente (secret.), Félix Yndurain (voc.), Adolfo Savoia (voc.), Renzo Natoli Calogero (voc.)
- Materias:
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- Resumen
PRESENTAMOS UN ESTUDIO DE OPTICA DE RAYOS X DUROS PARA RADIACION DE SINCROTRON. SE DESARROLLARON MODELOS TEORICOS PARA LA DIFRACCION DE RAYOS X Y SE IMPLEMENTARON EN UN PROGRAMA DE TRAZADO DE RAYOS X "SHADOW". EN PARTICULAR SE CONSIDERARON, CRISTALES TALLADOS ASIMETRICAMENTE, CURVADOS Y CRISTALES MOSAICO. SE DISEÑO LA OPTICA DE UN MONOCROMADOR FOCALIZANTE PARA EL LABORATORIO SCOW DE FRASCATI.
EN UNA SEGUNDA PARTE SE ESTUDIAN DOS TIPOS DE MATERIALES MEDIANTE LA ESPECTROSCOPIA DE ABSORCION DE RAYOS X.
I) SOLUCIONES DILUIDAS DE METALES DE TRANSICION.
II) IMPUREZAS DILUIDAS DE METALES DE TRANSICION EN CRISTALES DE MGO.
EL ANALISIS DE LOS DATOS SE REALIZARA POR COMPARACION DIRECTA DE LOS DATOS EXPERIMENTALES CON CALCULOS TECNICOS "AB INITIO", BASADOS EN EL FORMALISMO MULTIPLE SCATTERING.
SE AISLARON CONTRIBUCIONES DE MULTIPLE SCATTERING EN LOS ESPECTROS EXAFS DE LAS SOLUCIONES.
SE DETERMINO EL LUGAR DE LOCALIZACION DE LAS IMPUREZAS EN LA MATRIZ MGO Y LA EVOLUCION DE ESTAS IMPUREZAS AL TRATAR EL MATERIAL TERMOQUIMICAMENTE.
