El trabajo está destinado al análisis de los procesos de relajación dieléctrica, tanto en el dominio temporal como en el frecuencial. Para ello, se ha realizado la caracterización de dieléctricos en un extenso intervalo de frecuencias y temperaturas, aplicando diferentes procedimientos de medida.
Se ha diseñado un sistema electrónico que permite obtener de forma automática la permitividad dieléctrica compleja a frecuencias fijas de microondas en función de la temperatura, según el método de línea cortocircuitada.
El sistema dispone de una microprocesador como elemento central de control y está constituido por diferentes unidades destinadas al control de la temperatura en el dieléctrico, al movimiento longitudinal de la sonda detectora ya a la medida de la amplitud de la onda estacionaria.
Al objeto de determinar el espectro dieléctrico de dispersión en una amplia gama de frecuencias (DC-20 GHz), se han desarrollado los métodos de primera y de múltiple reflexión por reflectometría en dominio temporal, basados en el análisis de la respuesta transitoria de un medio dieléctrico a un escalón de tensión. En primera reflexión, el empleo de un algoritmo de deconvolución en el domino del tiempo ha permitido obtener la función de respuesta de la polarización de orientación, una vez limitado el espectro de las señales adquiridas. Mientras que en múltiple reflexión, la función de respuesta se ha obtenido a partir de la permitividad dieléctrica, resolviendo los problemas inherentes al cálculo de la transformada inversa.
El análisis de las magnitudes anteriores permiten abordar el problema de la determinación de la función de distribución de tiempos de relajación, tanto en el dominio frecuencial como temporal. Con esta finalidad, se efectúa la propuesta de un modelo generalizado de relajación, al considerar la permitividad dieléctrica como la respuesta frecuencial de un sistema caracterizado por una fun
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