L’aplicació de la difracció d’electrons per caracteritzar cristal·logràficament tot tipus de materials ha experimentat nous desenvolupaments que han cridat certa atenció durant aquests últims anys. Un gran nombre d’anàlisis estructurals en diferents compostos ja s’han dut a terme amb l’ajut de dades tridimensionals de difracció d’electrons que no eren possibles amb els habituals mètodes de raigs X. L’ús d'un microscopi electrònic de transmissió com a nano-difractòmetre d’electrons ha demostrat ser molt més beneficiós quan es requereixen dades de difracció de nanocristalls individuals, per exemple en mescles de fases cristal·logràfiques. D’aquesta manera, les fases individuals no s’han de sintetitzar en estat pur, fet que sempre comporta el risc de canvis estructurals. El treball presentat aquí inclou el desenvolupament i implementació d’una nova rutina universal per l’adquisició precisa i fiable de dades de difracció d’electrons. El potencial d’aquesta nova estratègia de recopilació de dades per resoldre diversos problemes cristal·logràfics s’il·lustra mitjançant tres materials coneguts. A més a més, dues estructures cristal·lines desconegudes de productes comercials han estat determinades i refinades completament; un colorant orgànic de baixa simetria i una estructura modulada incommensurada d’un component principal del ciment. En particular, el coneixement precís de les diferents estructures cristal·lines dels clinkers de ciment, com ara la alpha’H-C2S, permet l’anàlisi exacta de les fases d'aquestes mescles industrials extretes directament del procés de fabricació, i facilita el seu estudi per reduir les emissions de CO2.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados