Medida de la reflectancia de láminas de aluminio en el ultravioleta lejano influencia de la oxidación y la rugosidad
- Autores: Juan Ignacio Larruquert Goicoechea
- Directores de la Tesis: José Antonio Méndez (dir. tes.)
- Lectura: En la Universidad Autónoma de Madrid ( España ) en 1993
- Idioma: español
- Tribunal Calificador de la Tesis: Eduardo Elizalde Pérez-Grueso (presid.), Fernando Agulló López (secret.), José Luis Sacedón Adelantado (voc.), José Luis Morenza Gil (voc.), Antonio Corróns Rodríguez (voc.)
- Materias:
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- Resumen
He desarrollado un equipo experimental que permite la deposición de materiales en lamina delgada y la medida de su reflectancia en condiciones de ultra-alto vacio.. En este equipo he medido la reflectancia en función del angulo de incidencia de laminas delgadas de aluminio. De estas medidas he obtenido el indice de refracción de las laminas de aluminio, previa caracterización de su rugosidad por mfa. En este equipo se ha realizado un estudio de la influencia de la oxidación de laminas de aluminio en su reflectancia. Por otra parte se ha realizado un estudio de la influencia del espesor de la lamina de aluminio en su rugosidad superficial y en la radiación esparcida, obteniéndose relaciones empíricas entre el espesor de la lamina y los parámetros estadísticos de su rugosidad.
