Structural transformation dynamics in Ge films upon ultrashort laser pulse irradiation
- Autores: Jan Siegel
- Directores de la Tesis: Javier Solís (dir. tes.)
- Lectura: En la Universidad Autónoma de Madrid ( España ) en 1999
- Idioma: inglés
- Tribunal Calificador de la Tesis: Juan Piqueras (presid.), Michael Reichling (secret.), Javier Martínez Rodríguez (voc.), Fidel Vega (voc.), Fernando Alvarez Gonzalez (voc.)
- Materias:
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- Resumen
La dinámica de las transformaciones estructurales inducidas por pulsos láser de picosegundos (ps) y la determinación de los factores experimentales que las controlan constituyen el centro de interés de este estudio.
Para ello se han desarrollado distintos sistemas de medidas ópticas en tiempo real con resolución de ps, basado en la utilización de una Cámara "Streak".
El estudio comparativo de los procesos de fusión y solidificación rápida en láminas amorfas de Ge con espesores y substratos diferentes, así como en el material monocristalino ha proporcionado una amplia comprensión de las diferentes dinámicas de fusión y solidificación rápida que pueden inducirse por irradiación por pulsos de ps. Se ha realizado un esfuerzo adicional en el estudio de transiciones estructurales dentro de la fase amorfa en láminas delgadas de Ge y se ha analizado de forma muy especial los fenómenos reversibles de relajación. Finalmente, se han estudiado las transformaciones de fase inducidas por pulsos de ps en láminas de GeSb que es un medio soporte de gran interés para discos ópticos borrables ultrarrápidos, determinando las condiciones necesarias para inducir transformaciones reversibles de fase en tiempos menores de un nanosegundo.
