Análisis por TTPIXE de materiales ligeros de interés tecnológico.
- Autores: Miguel Ángel Respaldiza Galisteo
- Directores de la Tesis: Gonzalo Madurga Lacalle (dir. tes.)
- Lectura: En la Universidad de Sevilla ( España ) en 1986
- Idioma: español
- ISBN: 9788469237717
- Número de páginas: 280
- Tribunal Calificador de la Tesis: Manuel García León (presid.), Manuel Lozano Leyva (secret.), Rafael Guardiola Barcena (voc.), Maria Fernanda da Silva (voc.), José Lorenzo Ferrero Calabuig (voc.)
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- Tesis en acceso abierto en: Idus
- Resumen
El trabajo realizado en esta tesis se ha centrado en afrontar e intentar resolver los problemas que plantea el aplicar a algunas muestras gruesas de metales ligeros de alto interés tecnológico el análisis no destructivo por el método de Pixe (Particle Induced X-Ray Emission).
Después de revisar el conocimiento actual del proceso de producción de rayos X y la bibliografía relativa a las fuentes de datos necesarios para el análisis se ha descrito el instrumental utilizado dedicando especial atención a algunos aspectos de optimización. Se ha estudiado en profundidad las dificultades que se presentan al determinar la concentración de si de aleaciones al/si debido al agrupamiento en granos de dicho elemento proponiéndose una estrategia simple basada en un estudio teórico mediante un modelo sencillo consistente en el análisis a dos energías diferentes de los protones y que permite obtener resultados aceptables de dichas concentraciones. Se han analizado los elementos traza de cristales de Omg y Be dedicándose especial atención a determinar las condiciones experimentales que permitan una mayor sensibilidad llegándose a detectar concentraciones experimentales que permitan una mayor sensibilidad llegándose a detectar concentraciones de PPM.
