Esta tesis presenta los resultados de preparación y el desarrollo de CdTe/CZT detectores para aplicaciones de radiación de rayos gamma.
En la primera parte de la tesis, se han investigado los procesos para la fabricación de CdTe/CZT detectores incluyendo la preparación de la superficie y los bordes laterales.
Se ha investigado el proceso completo de preparación de la superficie, incluyendo el corte del lingote, lapping de las obleas, pulido mecánico, y ataque químico, poniendo énfasis en la caracterización de la superficie obtenida en cada paso. Se ha estudiado la selección del mejor ataque químico, su concentración óptima, y la limpieza de la superficie después del ataque químico, investigándose en términos de rugosidad de la superficie, contaminación, y morfología. En la última sección se ha estudiado la influencia de los diferentes métodos de preparación para los bordes laterales de los detectores.
En la segunda parte de este trabajo, se han investigado las propiedades de los contactos sobre cristales CdTe/CZT, los parámetros de metalización, y el rendimiento eléctrico.
En la primera sección, se han estudiado los diferentes métodos de deposición utilizando sputtering, evaporación, y técnicas electrolíticas. En la segunda sección, se han investigado los diferentes parámetros que están asociados con la calidad de los contactos. En la tercera sección, se estudia la capa única depositada sobre CdTe/CZT, investigándose en la viabilidad de la deposición de capas múltiples.
En la última parte, se han estudiado los resultados de la caracterización de los detectores preparados con materiales procedentes de diferentes procesos de crecimiento de cristales, y más en concreto, detectores CZT comerciales de eV products, y detectores preparados a partir de lingotes crecidos con diferentes condiciones de crecimiento. La investigación se centra principalmente en la influencia de la presencia de inclusiones de Te, la homogeneidad de la aleación y el dopaje, el comportamiento de luminiscencia, propiedades de la superficie de la muestra, y las propiedades eléctricas de los detectores.
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