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A methodology for evaluating test coverage criteria of high level Petri nets
Junhua Ding, Peter J. Clarke, Gonzalo Argote-Garcia, Xudong He
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Using machine learning to refine Category-Partition test specifications and test suites
Lionel C. Briand, Yvan Labiche, Zaheer Bawar, Nadia Traldi Spido
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Is non-parametric hypothesis testing model robust for statistical fault localization?
Zhenyu Zhang, W. K. Chan, T. H. Tse, Peifeng Hu, Xinming Wang
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Linux bugs: life cycle, resolution and architectural analysis
págs. 1618-1627
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