Revista española de electrónica

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  Año 2002, Número 568

  • Inspección en producción: Nuevas tendencias

    • Análisis avanzado de componentes electrónicos y conexiones utilizando tecnología microfocus de rayos X

      Fred Shlieper

      • Resumen

      págs. 58-62

      

  • Telecomunicaciones

    • Anritsu lanza un dispositivo de pruebas Bluetooth para ofrecer medidas en RF reales

      Angus Robinson

      • Resumen

      págs. 72-73

      

  • Técnica y diseño

    • Cómo crear funciones de transferencia no lineales con potenciómetros lineales

      Michael Quinn

      • Resumen

      págs. 74-76

      

  • Robótica

    • Detección y procesamiento de marcas: automatización de un sistema móvil mediante trayectoria y marcas (2)

      José Luis Lázaro Galilea, Ignacio Bravo Muñoz, Marta Martínez Carmena, Raúl Mateos Gil

      • Resumen

      págs. 78-81

      

  • Entornos de desarrollo integrados para PDs

    • Analizador lógico de estados para el MAX+PLUS II

      José Millet Roig, Antonio José Cebrián Ferriols

      • Resumen

      págs. 84-88