Modélisation de la dégradation d’un composant à partir du retour d’expérience
Aurélie Billon, Laurent Bordes, Pierre Darfeuil, Sophie Humbert, Christian Paroissin
págs. 26-47
Hidden Markov Model for the detection of a degraded operating mode of optronic equipment
Camille Baysse, Didier Bihannic, Anne Gégout-Petit, Michel Prenat, Jérôme Saracco
págs. 48-61
págs. 62-77
Approche décisionnelle bayésienne pour estimer une courbe de fragilité
Guillaume Damblin, Merlin Keller, Alberto Pasanisi, Pierre Barbillon, Éric Parent
págs. 78-103
págs. 104-119
págs. 120-134
págs. 135-151
págs. 152-166
© 2001-2025 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados