págs. 213-222
Accelerated Test Methods for Reliability Prediction
David H. Collins, Jason K. Freels, Aparna V. Huzurbazar, Richard L. Warr, Brian P. Weaver
págs. 244-259
págs. 260-272
págs. 273-284
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados