William Q. Meeker

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• Artículos de revistas

  • Big data and reliability applications: The complexity dimension

    Yili Hong, Man Zhang, William Q. Meeker

    Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 50, 2, 2018, págs. 135-149

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  • Application of Bayesian Methods in Reliability Data Analyses

    Ming Li, William Q. Meeker

    Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Vol. 46, Nº. 1, 2014, págs. 1-23

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  • More Pitfalls of Accelerated Tests

    William Q. Meeker, Georgios Sarakakis, Athanasios Gerokostopoulos

    Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 3, 2013, págs. 213-222

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  • System Reliability Theory: Models, Statistical Methods, and Applications, Second Edition

    Thomas P. Ryan, William Q. Meeker

    Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 1, 2005, págs. 84-87

    

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