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An adaptive thresholding-based process variability monitoring
Galal M.M. Abdella, Jinho Kim, Sangahn Kim, Khalifa N. Al Khalifa, Myong K. Jeong, Abdel Magid Hamouda, Elsayed A. Elsayed
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Modeling memoryless degradation under variable stress
Edward V. Thomas, Ira Bloom, Jon P. Christophersen, David C. Robertson, Lee K. Walker, Chinh D. Ho, Vincent S. Battaglia
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