Khalifa N. Al Khalifa

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  • Bayesian framework for fault variable identification

    Mehmet Turkoz, Sangahn Kim, Young-Seon Jeong, Myong K. Jeong, Elsayed A. Elsayed, Khalifa N. Al Khalifa, Abdel Magid Hamouda

    Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 51, 4, 2019, págs. 375-391

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  • An adaptive thresholding-based process variability monitoring

    Galal M.M. Abdella, Jinho Kim, Sangahn Kim, Khalifa N. Al Khalifa, Myong K. Jeong, Abdel Magid Hamouda, Elsayed A. Elsayed

    Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 51, 3, 2019, págs. 242-256

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