Periodo de publicación recogido
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Bayesian framework for fault variable identification
Mehmet Turkoz, Sangahn Kim, Young-Seon Jeong, Myong K. Jeong, Elsayed A. Elsayed, Khalifa N. Al Khalifa, Abdel Magid Hamouda
Journal of quality technology: A quarterly journal of methods applications and related topics, ISSN 0022-4065, Nº. 51, 4, 2019, págs. 375-391
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