Angle-resolved photoelectron spectroscopy on gate insulators.

• Autores: T. Hattori, H. Nohira, S. Shinagawa, M. Hori, M. Kase, T. Maruizumi
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 20-26
• Idioma: inglés
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