Experimental and numerical investigations on delayed short-circuit failure mode of single chip IGBT devices.

• Autores: Z. Khatir, S. Lefebvre, F. Saint-Eve
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 2-3, 2007, págs. 422-428
• Idioma: inglés
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