S. Lefebvre

• Artículos de revistas (7)

• Artículos de revistas

  • Investigation on damaged planar-oxide of 1200 V SiC power MOSFETs in non-destructive short-circuit operation

    F. Boige, F. Richardeau, D. Trémouilles, S. Lefebvre, G. Guibaud

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 500-506

    • Resumen
    

  • Mechanisms of power module source metal degradation during electro-thermal aging

    R. Ruffilli, M. Berkani, P. Dupuy, S. Lefebvre, Y. Weber, M. Legros

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 507-511

    • Resumen
    

  • Characterisation of power modules ceramic substrates for reliability aspects.

    S. Pietranico, S. Pommier, S. Lefebvre, Z. Khatir, S. Bontemps

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1260-1266

    

  • Estimation of SiC JFET temperature during short-circuit operations

    M. Berkani, S. Lefebvre, N. Boughrara, Z. Khatir, J.-C. Faugières, P. Friedrichs, A. Haddouche

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1358-1362

    

  • Degradation behavior of 600 V¿200 A IGBT modules under power cycling and high temperature environment conditions.

    M. Bouarroudj, Z. Khatir, J.P. Ousten, F. Badel, L. Dupont, S. Lefebvre

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1719-1724

    

  • Failure modes on low voltage power MOSFETs under high temperature application.

    L. Dupont, S. Lefebvre, M. Bouaroudj, Z. Khatir, J.C. Faugières

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1767-1772

    

  • Experimental and numerical investigations on delayed short-circuit failure mode of single chip IGBT devices.

    Z. Khatir, S. Lefebvre, F. Saint-Eve

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 2-3, 2007, págs. 422-428

    

Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.