Study of nanocrystal memory integration in a Flash-like NOR device.

• Autores: C. Gerardi, S. Lombardo, G. Ammendola, G. Costa, V. Ancarani, D. Mello, S. Giuffrida, M.C. Plantamura
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 593-597
• Idioma: inglés
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