High-K dielectrics for inter-poly application in non volatile memories.

• Autores: A. Sebastiani, R. Piagge, A. Modelli, G. Ghidini
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 598-601
• Idioma: inglés
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