Probing negative bias temperature instability using a continuum numerical framework: Physics to real world operation.

• Autores: S. Chakravarthi, A.T. Krishnan, V. Reddy, S. Krishnan
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 6, 2007, págs. 863-872
• Idioma: inglés
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