Influence of polysilicon film thickness on radiation response of advanced excimer laser annealed polycrystalline silicon thin film transistors.

• Autores: V. Davidovic, D.N. Kouvatsos, N. Stojadinovic, A.T. Voutsas
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1841-1845
• Idioma: inglés
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