Influence of the organic pollution on the reliability of HE9 connectors.

• Autores: L. Crétinon, M. El Hadachi, F. Augereau, L. Doireau, G. Despaux
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1129-1133
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)