Advanced thermal failure analysis and reliability investigations � Industrial demands and related limitations.

• Autores: A. Altes, R. Tilgner, M. Reissner, G. Steckert, G. Neumann
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1273-1278
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)