NBTI on smart power technologies: A detailed analysis of two concurrent effects using a re-examined on-the-fly technique.

• Autores: S. Aresu, R. Pufall, M. Goroll, W. Gustin
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1310-1312
• Idioma: inglés
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