PLL soft functional failure analysis in advanced logic product using fault based analogue simulation and soft defect localization.

• Autores: L. Gao, C. Burmer
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1349-1353
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)