New aspects for lifetime prediction of bipolar transistors in automotive power wafer technologies by using a power law fitting procedure.

• Autores: M. Goroll, R. Pufall, S. Aresu, W. Gustin
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1509-1512
• Idioma: inglés
• Texto completo no disponible (Saber más ...)