A CMOS circuit for evaluating the NBTI over a wide frequency range.

• Autores: R. Fernández-García, B. Kaczer, G. Groeseneken
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 8, 2009, págs. 885-891
• Idioma: inglés
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