Electromagnetic immunity model of an ADC for microcontroller�s reliability improvement.

• Autores: J.-B. Gros, G. Duchamp, A. Meresse, J.-L. Levant
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 963-966
• Idioma: inglés
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