Modelling and experimental verification of the impact of negative bias temperature instability on CMOS inverter.

• Autores: N. Berbel, R. Fernandez, I. Gil
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1048-1051
• Idioma: inglés
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